标题:STM技术是一个原子水平上的材料分析工具

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2016-6-27 13:08:52 将本页加入收藏

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正文:

STM技术是一个原子水平上的材料分析工具

  由于能够在纳米和原子量级上探测电流与力的双重性能,在过去的
20年AFM促进了各种扫描探针显微镜(sanning probe microscope,SPM)
技术的快速发展。诸如AFM、磁力显微镜技术、静电力显微镜技术、扫
描电容显微镜技术、近场扫描光学显微镜技术等的出现,让使用者们能
在纳米量级上研究材料的局域电子的、磁的、化学的、力学的、光学的
与热学的性质。现已表明,SPM技术不仅可以成像,还能让使用者在纳
米和原子量级上控制和修改局部结构和材料性能。于是,过去的20年SP
M技术的利用得到高速增长,SPM技术被广泛应用于各个科学领域,从凝
聚物理学、化学、材料学到医药和生物学。毫不夸张地说,纳米科技20
年的高速发展得益于SPM技术的应用,同时也促进了新的SPM探测技术的
发展。

  STM技术是一个原子水平上的材料分析工具,它基于电子方法测量
导电针尖与表面之间的隧道电流。它能描绘和分析原子或分子表面附近
的电子本质特性。另外,它也可以操控单个原子或分子。因此,STM技
术是第一代的原子或分子技术。然而,STM技术只能用于研究在某种程
度上具有导电性的表面。另一方面,AFM则是唯一以机械手段研究绝缘
体表面的原子水平上的检测工具。










出自http://erospu.com/北京显微镜百科
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